Microscopio Elettronico a Scansione (SEM) con sonda Raman e EDS
Il microscopio elettronico a scansione (SEM) può essere utilizzato sia in modalità ad alto vuoto che a pressione variabile e umidità relativa in camera analizzando materiali metallici, ceramici, polimerici. Questa configurazione permette di eseguire analisi:
- di materiali massivi,
- di polveri,
- di rivestimenti,
- di strati riportati,
- di superfici di frattura.
La microsonda elettronica (EDS), associata al SEM, permette di effettuare per tutti gli elementi (dal B in poi):
- microanalisi puntuali,
- mappe compositive,
- profili di concentrazione.
La sonda RAMAN, associata sia al SEM che ad un microscopio ottico, permette di effettuare una completa analisi chimica strutturale di molecole organiche ed inorganiche sia sotto forma di polveri, solidi e liquidi.
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